Caurejošā starojuma elektronu mikroskops
TEM.
Enco di Fabricio no Dženovas Itālijas tehnoloģiju institūta, strādājot ar savu komandu, izmantoja šo instrumentu, lai, apvienojumā ar asprātīgiem palīglīdzekļiem, iegūtu nepārprotamus pierādījumus, ka Krika-Votsona 1953.g. izteiktie secinājumi par DNS formu bija pareizi.
TEM attēlatveidē ir zināmi ierobežojumi. Pirmkārt, paraugam jāatrodas vakuumā, otrkārt, tam jābūt ne pārāk biezam, ne plānam. Di Fabricio vispirms izveidoja silīcija pamatni ar īpaši hidrofobiem izciļņiem. Tad konteinerā ar šo pamatni ievadīja šķīdumu ar DNS. Ūdens ātri izgaroja (gāzes, lai nepasliktinātu attēla kvalitāti tiek piesaistītas ar adsorbentiem) un DNS pavedieni palika novilkti kā virve starp diviem izciļņiem. Tad, pa iepriekš pamatnē izveidotiem caurumiem tika šauts cauri elektronu kūlis, kas ļāva iegūt augstas izšķirtspējas attēlu ar skaidri izšķiramu dubultspirāles vijumu.
Raksti.
Pirmo reizi iegūts tiešs DNS dubultspirāles attēls.
Saites.
Elektronu mikroskopi.
